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产品信息

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产品型号：更新日期：2014-5-13 10:36:45 浏览数：12111

测量荧光粉及其它粉末材料的粒径分布。

性能指标：

◆ 采用激光散射理论，多元环形探测器列阵快速测量

◆ 粒径范围：1μm～100μm

◆ 采样时间：小于0.2秒

◆ 粒度参数：频度分布、累积分布、平均粒径等，D25、D50、D75

◆ RS-232C标准接口，方便与各种微机连接

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杭州浙大三色仪器有限公司